一、去嵌目的
- VNA 校准参考平面在同轴端口,而 DUT 通过夹具、探针、转接器、PCB 走线连接。
- 这些中间环节会引入:额外损耗、相位偏移、阻抗失配、串扰、色散。
- 不去嵌,测得的是「DUT + 中间网络」的混合特性,无法得到 DUT 真实性能;
- 去嵌入对象:夹具板的 Lead-ins 和 Lead-outs 网络 (Connector, Trace, Probe 等)
二、去嵌原理
- 如果被测件和夹具网络是单端的,提取的夹具网络参数文件是 s2p 格式;
- 如果被测件和夹具网络是差分的,提取的夹具网络参数文件是 s4p 格式; <